Santec集成化PIC测试解决方案 —— 多参数同步测量与故障定位系统

在光子集成电路（PIC）的测试过程中，传统方法面临设备分散、流程不连贯的技术挑战。Santec 基于功能模块化设计理念，构建了一套完整的测试系统，实现从基础表征到故障分析的全流程覆盖。

① 可调谐激光源 TSL-570

• 波长范围：1240-1680nm（可扩展）

• 扫描分辨率：0.1pm@200nm/s

• 输出功率：最高+25dBm

• 应用：提供稳定的扫频光源，支持IL、WDL等基础参数测量

② 偏振控制与分析模块 PSY-201 

• 功能：完整的偏振态（SOP）生成与分析

• 特性：支持预设偏振态、偏振轨迹模拟

• 应用：PDL测量、偏振相关特性分析

③ 回损测量单元 RLM-100

• 测量范围：30-85dB（单模）

• 测量速度：Fast模式<1.5s/波长

• 特性：内置自校准功能

• 应用：反射特性量化分析

④ 光学故障诊断仪 SPA-110

技术：光学频域反射（OFDR）

空间分辨率：5μm（C/L波段）

测量距离：5-30m

应用：波导缺陷定位、耦合界面分析

⑤ 光路切换与探测系统

• OSX-100光开关矩阵

• 1×2 + 1×32配置

• 插损<0.5dB

• 串扰<-80dB

⑥ 高效探测器：球形探测器功率计 OPM-200

• 波长范围 840–1700nm

• 功率测量覆盖 - 80dBm 至 30dBm

• 平均响应时间仅 50μs

• 支持高速数据记录（每探测器 128,000 采样点）

• 精准适配自动化测试和对准环节，不拖慢流程

第一阶段｜多参数同步测量

TSL-570 执行波长扫描，PSY-201 调控入射偏振态，OSX-100 矩阵完成多通道切换，OPM-200 同步采集传输功率，最终输出 IL 谱线、WDL、PDL 及偏振敏感性等参数。

第二阶段｜反射特性分析

通过 1×2 光开关切换至 RLM-100 路径，可快速获取器件反射谱，精准识别界面反射、模式失配等问题。

第三阶段｜故障精确定位

切换至 SPA-110 测量路径，基于OFDR 技术获取空间域反射特征，精确定位波导缺陷、耦合损耗等问题位置。

本方案通过高度集成的单一平台，实现了扫频、偏振、回损及故障定位等核心测试功能，兼具高波长分辨率与低插损的光路设计，在保证测量精度的同时，具备灵活的通道与功能扩展能力，并通过标准SCPI指令集支持系统集成，为PIC研发与量产提供了高效、一致且可靠的测试平台。