全新超分辨技术——表面迁移荧光损耗
01 导读
近日,华南师范大学詹求强教授团队与新加坡国立大学刘小钢教授团队合作,在超分辨荧光显微成像领域取得重要创新性成果。他们摒弃了STED依赖高强度激光、效率低下的受激辐射实现荧光损耗的途径,提出了新颖的“表面迁移荧光损耗(SMED)”机理取代受激辐射。该机理突破了传统STED技术的原理性局限,成功将技术所需激光功率降低了3~4个数量级,实现了17 nm的成像分辨率,极大地提升了超分辨成像性能,并大幅降低了技术复杂度和系统成本。
该成果于2022年11月4日以“Super-resolution microscopy enabled by high-efficiency surface-migration emission depletion (SMED)”为题发表在Nature Communications上。
02 研究背景
03 研究创新点



04 总结与展望
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