解决方案

Santec 的基于硅基液晶(LCOS)技术的可编程光波处理器 WSS-2000，是一款具有高度灵活性的可编程光波处理器。该产品在光通信领域无论是科研还是产业方面都有着广泛的应用，如可通过使用滤波器作为高速信号的光平衡器应用 于下一代光纤网络；也可以作为自适应多通道滤波器用于先进的光纤传输系统(DWDM，OFDM)；还可以作为灵活的测试系统或者光波形仿真器等。 特  点 生成可任意编辑的波形及脉冲整形 频率和频带可调 (Typ.0.78GHz) 具有边缘陡峭的光滤波特性（Typ.400dB/nm） 光开关构成(1×1 , 1×2 , 1×4) 基于新一代硅基液晶 LCOS（Liquid Crystal on Silicon）开发 可选相位控制功能 应 用   基于高速信号用光均衡器的光放大器的评价及实验 波分复用器（WDM）100Gb/s、400Gb/s 等高速传输测试 可调和自适应DWDM，OFDM信道滤波 灵活的测试与测量 下一代光束波长OXC 脉冲整形 光通信发生...

1.      自适应光学简介 对于传统的地基天文望远镜，由于受到大气湍流影响，即使口径增大，设计、加工能力提高，分辨率也无法获得衍射极限水平。为解决该问题，1953年，美国天文学家H.W.Babkock提出自适应光学（Adaptive Optics， AO）概念；1957年，苏联天文学家Linnik也提出类似思想。 经过多年的发展，光学工作者创立了一个光学新分支———自适应光学。 目前，世界上大型的望远镜系统都采用了自适应光学技术，自适应光学的出现为补偿动态波前扰动，提高光波质量提供了新的研究方向。   60多年来，自适应光学技术获得蓬勃发展，现已应用于天文学、空间光学、激光、生物医学等领域。 在天文学领域，用于克服大气湍流形成的波前动态扰动，提高光学仪器分辨率及信噪比；在空间光学领域，用于遥感成像、战略防御等系统，以克服设计、制造、装调及热、结构变形等误差；在激光领域，用于克服激光器腔内热变形、光学元件加工及装调误差、激光增益介质不均匀、谐振腔失调、大气湍流扰动及热晕效应等，以提高高能束到达靶标的能量密度或解决激光通信中激光链路相干度退化及可用度降低问题；在生物医学领域，用于校正各类系统静态、动态像差，以获得清晰的生物组织图像。...

波前传感器在自适应光学系统中起着至关重要的作用，其通过实时测定动态入射波前的相位畸变，为波前重构及校正提供信息。 与其他传感器不同，由于不同应用场合下光学系统误差源所造成的波前相位扰动的时间和空间带宽范围大，自适应光学系统中的波前传感器必须具有足够高的时间和空间分辨率。 对于用作星体与微弱目标观察的自适应望远镜系统，还由于在一个子孔径和一次采样时间内所能利用的来自目标或人造信标的光能量极其有限（通常在光子计数的水平），因此要求波前传感器必须达到或接近光子噪声受限探测能力。 一般地，波前传感器有五项重要的技术指标： （１）被测面波前与探测面光强之间满足何种数学关系及是否严格满足理论论证的数学关系。 （２）传感器的能量透过率。 （３）波前传感器中探测器的性能参数，如量子效应、信噪比等。 （４）波前传感器数据处理能力及数据传输速度。 （５）传感器适用的参考光源。不同的传感器适用于不同的参考光源，有的仅适合于单色性好的点光源（如曲率传感器），有的则适合于宽光谱的点光源或扩展光源（如夏克－哈特曼波前传感器）。 直接传感方法即直接探测被测波前的特征量。根据传感方式可分为区域传感和模式传感两种。...

在当今快速发展的工业领域，对高精度和高效率测量的需求日益增长，但是普通检测技术在测试灵敏度、工作距离、测量重复性存在局限性，因此SS-OCT技术成为精密加工测量领域的理想选择。 得益于Santec强大扫频激光器以及系统建设能力，Santec推出的基于SS-OCT技术的光学轮廓仪OPS-1000，解决了精密加工件的3D光学测量需求。该产品具备非接触式、快速且高精度的测量性能，无需考虑物体的形状、材料、颜色或表面条件，是研发和生产环境中的理想选择。 特  点 高灵敏度：OPS-1000拥有超过70dB的系统动态范围，以及100dB的最小光探测灵敏度，使其能够捕捉到极其细微的表面变化，满足严格的测量标准。 高重复性：微米量级的测量重复性。 同轴测量：采用的同轴测量技术，使得即使面对形状复杂的物体，也能轻松进行精确测量，提高了测量的准确性和可靠性。 高速测量：能够实现每秒40万点的高速测量，适合于需要快速反馈的全自动检测流程。 不受环境光影响：采用相干测量原理，不受环境光（如阳光或生产环境中的光）的影响，确保了测量的准确性和可靠性。 应 用 工业产品和材料3D测量：可用于精确测量工业产品和材料的3D形状和尺寸。...

1. 镜头耀光 (flare) 2. 色彩传输 (color transmission) 3. 近摄光学表现 (close-up performance) 4. 畸变 (distortion) 5. 暗角 (Vignetting) 6. 散景 (bokeh) MTF测试是价值中立的量化工具，分数则否 业余摄影玩家们对手边的器材，多少都有一点好奇心，总想知道这只镜头的表现，能否符合自己心中的那一把尺。往昔有专业杂志提供严谨的「测试报告」 (Test report) ，详列各种客观科学测量数据，都是在严格控制参数下进行调查，像是日文摄影期刊《アサヒカメラ》在1957年开辟的「ニューフェース诊断室」专栏，本身就是相当具有参考价值的专业测试报告。 日文摄影期刊アサヒカメラ于1957年开辟了「ニューフェース诊断室」专栏，直到停刊为止，都是相当具有参考意义的专业测试报告。报告中的「コントラスト减少率」曲线图表，即为MTF。除此之外，还有更多项目都需要利用专门的科学仪器进行客观测试。图片来源：アサヒカメラ，1999年11月 另一种比较轻松休闲的内容，名为「试用报告」 (field review)...

一些材料的特性可借助光谱成像技术（尤其是1700 nm以上的扩展SWIR波段光谱成像）进行鉴别。在这一波段进行红外光检测的难处在于需要高度成熟的传感器技术。然而，适配这一用途的传感器技术又各有优劣，这里将为您简要介绍一些示例。 硅基传感器可针对其使用的玻璃材料以及内部结构进行优化，使之能够在最低至200 nm的紫外线范围内依旧保持灵敏，或在750 nm以上至最高1100 nm波长内提供更高的灵敏度（NIR传感器）。然而，当波长达到1050 nm以上时，传感器的量子效率通常低于10％并急剧下降，这是因为硅基材料面对大约1100 nm以上波长的光时趋近透明。因此，需要通过其他传感器材料来检测波长超过1100 nm的SWIR波段光线。 XSWIR传感器技术 最常见的短波红外（SWIR）传感器类型使用了铟镓砷 (InGaAs) 等材料。这种传感器通常对900至1700 nm波段的光较为敏感。然而，如果将亚磷酸铟层的厚度加工到足够纤薄，从而使可见光能够到达InGaAs的感光层，则传感器也可以检测可见光波段的光线。例如索尼的IMX99x...

随着半导体技术的不断进步，晶圆的制造精度要求也日益提高。Santec针对这一需求，推出了TMS-2000高精度晶圆厚度测量系统，旨在解决晶圆表面研磨厚度不均和抛光均匀度等问题，从而有效避免因晶圆厚度不均导致的封装问题。 TMS-2000系统采用非接触方式测量晶圆的厚度分布，能够对晶圆的整体、局部以及边缘的平整度进行重复性测量，提供高达1nm的重复性精度。这一高精度的测量能力，得益于其先进的干涉探测技术。同时，TMS-2000还具备良好的环境适应性和稳定性，即使在测试环境温度剧烈变化或振动不稳定的情况下，也能保持测量精度，解决了传统晶圆厚度映射测试技术中的精度问题。 特点 •高精度测量：基于干涉探测技术，实现1nm的重复性精度，确保晶圆厚度测量的高精度。 •环境适应性：即使在温度变化剧烈或振动不稳定的环境中，也能保持测量精度。 •紧凑的尺寸：设备体积小，节省空间。 •自动定位和坐标数据加载：工作台可容纳12英寸的晶圆，自动定位缺口位置和晶圆中心，自动加载坐标数据，简化操作流程。 •多种测量和分析功能：除了厚度测量和线轮廓分析外，还能进行平整度参数的统计分析，并支持数据的任意形式显示与输出。 应用...

本文介绍了紫外波前传感器在半导体检测中的应用。详细阐述了其在晶圆检测、芯片检测、封装检测以及光学元件检测中的具体应用。指出紫外波前传感器能够提供高精度的检测数据，帮助工程师及时发现问题并进行修复，从而提高产品质量和生产效率。   上海旭为光电科技有限公司推出全新一代高分辨率紫外波前传感器，探测波段覆盖190-400nm。该高分辨率紫外波前传感器具有可测试汇聚光斑，高动态范围，大通光面（13.3mm x13.3mm），高分辨率(512x512)，消色差，震动不敏感等特点。半导体技术在现代社会中扮演着越来越重要的角色。随着半导体器件尺寸的减小和集成度的提高，对检测技术的要求也越来越高。紫外波前传感器作为一种高精度的光学检测手段，在半导体检测领域发挥了越来越重要的作用，应用范围也越来越广泛。 工作原理：  ...

Acqiris高速数据采集卡为扫描源光学相干断层扫描（SS-OCT）提供了卓越的数据采集解决方案。这套数据解决方案的采样速度最高可达4GS/s，A-scan速度更可达2MHz，为SS-OCT技术的进一步发展和应用提供了有力保障。上海昊量光电作为专业的光电代理商以及Acqiris的合作伙伴，可为您提供专业的选型以及技术服务。 扫描源光学相干断层扫描（SS-OCT）是一种高分辨率、非侵入性的成像技术，广泛应用于医学、生物医学和工业领域。SS-OCT通过扫描光源的光谱来获取图像，与传统的时间域光学相干断层扫描（TD-OCT）相比，其优势在于更快的成像速度和更深的成像深度。通过使用光源的整个频谱，SS-OCT可以获得更高的信号强度和更大的信号动态范围，从而实现更高的成像分辨率和对比度。 尽管SS-OCT具有许多优势，但也存在一些局限性和弱点，SS-OCT系统通常需要使用高速的扫频光源来获得成像速度的提升。但在扫描速度变快的同时，配套的OCT数据采集设备也需要跟上光源的步伐。然而目前OCT的数据采集系统并不能完全满足日益增长的SS-OCT的需要。...

01丨介绍     带轨道角动量（OAM）的激光光束，也叫涡旋光束。相应的波前为涡旋结构，通常用拉盖尔-高斯模式描述。图1显示了涡旋模式波前的例子，几幅图具有不同的拓扑荷。 图1. 拓扑荷分别为1, 2, 3的涡旋模式模拟图     OAM光束可以通过螺旋相位板、计算机全息图、空间光调制器、光学纳米天线阵列或环形谐振腔生成。其应用包括光镊中的旋转粒子捕获、弱微流体电流生成、STED显微镜、通过螺旋相位对比成像的边沿滤波、以及改进光学数据传输和量子密码。夏克-哈特曼波前传感器是OAM光束评价中的一种多功能工具。下文描述如何用Optocraft的夏克-哈特曼波前传感器SHSLab进行涡旋波前的测量与评价。 02丨实验     实验光路如图2所示：光从光纤耦合的激光二极管出射，波长为635nm，经过准直，通过螺旋相位板。夏克-哈特曼波前传感器SHSCam-BR-110-GE的横向分辨率为58×43的微透镜阵列，被直接放置在相位板后，以便将波前的传播效应最小化。为简单起见，没有使用中继光学元件。首先，从光路中移去相位板进行测量，作为之后测量的参考。实验测量了不同拓扑荷（分别为1，2，3）的螺旋相位板。 图2. 涡旋波前测量的实验光路 03丨结果    ...