ACS Photonics | 不再一刀切的大视场超分辨显微,实现边成像边校正

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题目: Adaptive Optics-Assisted Large-Field Structured Illumination Microscopy via Coherent Aberration Sensing
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期刊: ACS Photonics
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DOI: 10.1021/acsphotonics.5c02743
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关键词:傅里叶拼接辅助结构照明显微(FP-SIM)
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单位:北京大学(Peking University),粤港澳大湾区协同创新研究院(GBA Institute of Collaborative Innovation),北京航空航天大学(Beihang University)
主要内容
这篇文献聚焦于结构照明显微镜(SIM)在大视场和厚样本成像中普遍面临的空间变像差问题。传统SIM虽然具有较高光子利用效率和较快成像速度,但在样品厚度变化、折射率不均匀等条件下,不同区域会经历不同的探测光路畸变,导致对比度下降、分辨率劣化和重建伪影增加。为解决这一问题,这个工作提出了傅里叶拼接辅助结构照明显微方法FP-SIM,将傅里叶拼接显微(FP)的定量相位恢复能力引入SIM重建流程,通过相干、无标记测量直接恢复各子区域的瞳面相位,并据此构建局部OTF,对荧光SIM图像进行逐块、自适应的像差校正。该方法不依赖荧光导星或额外波前传感器,能够实现原位、无导星的空间变波前感知。实验结果表明,FP-SIM在标准荧光微球、厚小鼠脑组织切片以及大视场固定U2OS细胞样本中,均优于HiFi-SIM和分块Wiener-SIM,在分辨率、背景抑制、伪影控制和细节保真方面表现更稳定;其中在微球样本上,实测分辨率达到478.5 ± 26.7 nm,接近458 nm理论极限。整体来看,这项工作为大范围、深层、抗像差的高保真荧光超分辨显微成像提供了一条兼具模型约束与自适应校正能力的新路径。
可以把普通显微镜拍图就像隔着一层不均匀玻璃看东西。如果玻璃不同位置厚薄不一样、材料也不一样,看到的画面就会有的地方清楚、有的地方发虚,甚至出现假纹理。结构照明显微镜本来是一种能把细节看得更清楚的超分辨方法,但一旦样本面积变大、厚度变厚,这种“玻璃不均匀”的问题就会更严重,导致不同区域的图像质量差别很大。这篇文献做的事情,相当于给显微系统加上了一种“边拍边测眼镜度数”的能力:先用一种不需要染色的相干成像方式,测出样本不同位置到底把光线扭曲成了什么样;再把这些局部扭曲信息送回到超分辨重建里,对每一小块区域分别矫正。这样一来,系统不再假设整张图都一样清楚,而是能够像给不同区域分别配镜一样做局部修正。实验说明,这种方法在大范围细胞图像、厚脑组织切片和标准样本上都能得到更干净的背景、更少的伪影和更稳定的高分辨结果,同时还能额外提供一张“无标记相位图”,帮助看到细胞整体形态。对于需要大范围、高细节观察复杂生物样本的场景,这种方法的实际价值较高。
创新点
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原位感知空间变像差
这个工作的首要创新,是把傅里叶拼接显微中的相位恢复能力用于SIM的原位像差测量。传统做法多依赖荧光微球预标定PSF,能够反映的主要是系统级静态像差,难以捕捉样本本身引入的局部畸变。该方法则通过相干、无标记数据恢复各子区域瞳面相位,从成像现场直接估计样本诱导的空间变波前误差。这样得到的像差信息与真实荧光探测路径更一致,更适合厚样本和大视场成像。
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建立逐块自适应重建框架
文献没有采用整幅图统一校正,而是把视场划分为多个tile,对每个子区域分别建立局部OTF并独立重建。这样可以针对不同位置的像差差异进行局部补偿,避免全局单一PSF对复杂样本失配。论文中在FP-SIM与Tiled-Wiener-SIM对比时明确表明,后者虽然也做了分块,但仍依赖预标定、场不变PSF,因此无法描述样本引起的真实局部波前扭曲。FP-SIM的贡献在于把“分块”从几何切分推进到了“分块波前建模与校正”。
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实现跨模态像差映射
该方法并不是简单并排使用FP和SIM,而是建立了相干相位通道到荧光重建通道的有效映射。由于FP与SIM工作波长不同,论文进一步引入Zernike多项式分解,将FP测得的相位像差映射到不同荧光发射波段,用于波长相关校正。这样既保留了FP波前恢复的准确性,又使其能够真正服务于多通道荧光SIM。相较只在单一模式下工作的传统方法,这种跨模态耦合是该系统设计中的关键机制。
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兼顾大视场与高分辨率
这项工作的系统设计强调“大范围成像下的超分辨稳定性”,而不是仅在小视场内追求局部分辨率。论文采用定制高通量物镜,在当前实现中获得0.95 mm有效视场,并通过11 × 11子区域校正覆盖整幅成像区域。对于固定U2OS细胞三色通道,FP-SIM的去相关分辨率分别达到488.9 ± 4.3 nm、539.2 ± 8.5 nm和595.5 ± 28.4 nm,整体优于HiFi-SIM和Tiled-Wiener-SIM。其意义在于,方法把SIM从“小范围高分辨”推进到“较大视场下仍能保持较高成像保真度”。
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增强厚样本与深层成像能力
论文在厚小鼠脑组织切片中验证了该方法的深层适用性,并比较了5 μm和20 μm成像深度下的表现。结果表明,FP-SIM能够恢复深度相关的局部像差,并在20 μm深度仍保持较清晰的结构边界和较高对比度,而对比方法则更容易出现分辨率下降与伪影累积。这里的创新不只是“图像更清楚”,而是证明了FP测得的瞳面相位确实对应SIM探测通路中经历的样本诱导像差。该点对于厚组织成像尤其关键,因为深度变化会直接改变像差分布。
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形成双模态协同成像能力
除了像差校正,FP通道本身还提供了无标记相位成像,使系统具备荧光与相位双模态联合重建能力。论文展示了四通道U2OS细胞的荧光超分辨结果以及对应的无标记相位结果,两者共光路、共配准,可以把分子特异性信息与细胞整体形态信息结合起来解释。与单纯输出荧光SIM图像的系统相比,这种双模态结构提高了成像信息密度,也增强了复杂生物样本分析时的可解释性。其价值不仅体现在成像质量,还体现在生物学观察维度的扩展。
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