LUNA背光反射计
OBR4600背光反射计是LUNA公司的获奖产品。专用于器件和短程网络的测试及故障定位，超高灵敏度，超高分辨率，高达10微米的空间分辨率、零死区、集成温度和应力探测及加长模式，OBR4600提供了无可比拟的光纤测试能力。
背光反射计OBR 4600
OBR4600背光反射计是LUNA公司的获奖产品。专用于器件和短程网络的测试及故障定位，超高灵敏度，超高分辨率，高达10微米的空间分辨率、零死区、集成温度和应力探测及加长模式，OBR4600提供了无可比拟的光纤测试能力。
- -130dB的灵敏度
- 70dB的动态范围
- 2千米的测试长度，零死区
- 70米内微米级的分辨率
- 小于0.05dB的损耗分辨率
- OBR4600为光纤器件、组件的设计者和制造者提供了前所未有的诊断能力。
- 方便地定位及诊断光纤的弯折、熔接、连接头及断裂等各类故障
- 定位各点的插损
- 深入期间内部，评估每个接口的RL和IL
- 7秒内以10微米的分辨率完成30米的测量
- 以3Hz的频率连续测量1米的范围
- 可测试并定位2千米的光纤网络故障
- 光纤组件的自动检验
- 器件或模块内温度及应力的监测
- 光纤或无源器件的故障定位
- 光纤温度传感、光纤应力传感
| 参数 | 规格指标 | 单位 | ||
| 最大测量长度: | ||||
| 标准模式 | 30或70 | meters | ||
| 长量程模式 | 2000 | meters | ||
| 空间分辨率（两点间）1: | ||||
| 10um(30米内) | um | |||
| 20um（70米内） | mm | |||
| 1mm（2000米内） | mm | |||
| 死区: | ||||
| 等于两点间的空间分辨率 | ||||
| 波长范围2： | ||||
| 1270-1340 或 1525-1610 | nm | |||
| 波长 | ||||
| 分辨率（最大） | 0.02 | pm | ||
| 精度3 | ±1.5 | pm | ||
| 回损: | ||||
| 动态范围4 | 70 | dB | ||
| 总范围 | 0~-125 | dB | ||
| 灵敏度 | -130 | dB | ||
| 分辨率 | ± 0.05 | dB | ||
| 回损精度 | ± 0.1 | dB | ||
| 插损: | ||||
| 动态范围5 | 18 | dB | ||
| 分辨率 | ± 0.05 | dB | ||
| 插损精度 | ± 0.10 | dB | ||
| 群延时: | ||||
| 精度 | 1.0 | ps | ||
| 分布式传感6: | ||||
| 空间分辨率 | ±1.0 | cm | ||
| 温度精度7 | ±0.1 | ℃ | ||
| 应力精度7 | ±1.0 | μstrain | ||
| 测量时间8: | 标准模式 | 快速扫描11 | 定点模式11 | |
| 5nm扫描时间 | 3 | 1.6 | 0.3 | s |
| 时间与扫描波长速度 | 2.1s+0.14s/nm | 1.3s+0.06s/nm | 0.15s+0.02s/nm | |
| 长量程（2km）扫描时间 | 20 | s | ||
所有参数适用于单模光纤。
对于多模光纤，参数仅为名义值
1. 在整个长度内。
2. 名义范围。
3. 精度由内置的、NIST可追溯的HCN气室来保证。
4. 对于2千米的选项，回损动态范围是60dB。
5. 这个插损动态范围是在标准的单模光纤散射水平（~-100dB/mm）低于背景噪声（~-118dB/mm）前的单程损耗。
背光反射计OBR 5T-50
- 测量速度、长度和精度综合能力业界领先
- 10Hz扫描速度，20微米的空间分辨率，8米的测量长度
- 简化的操作界面，并随机提供SDK
- 自动低位反射点，并报告RL和IL
- 故障定位
- 测量回损和插损（RL和IL）
- 自动化测试及报告
- 亚皮秒级的SKEW测量
- 实时光学准直
| 参数 | 单次扫描 | 10次扫描 | 单位 |
| 长度: | |||
| 最大测量长度 | 8.5 | meters | |
| 空间分辨率 | 20 | um | |
| 长度测量精度 | ±0.015% | ||
| 死区: | |||
| 20 | um | ||
| 波长: | |||
| 波长范围 | 40 | nm | |
| 波长精度 | 1.5 | pm | |
| 中心波长 | 1546.69 | nm | |
| 回损: | |||
| 动态范围 | 60 | 65 | dB |
| 回损量程 | -14~-120 | -14~-125 | dB |
| 灵敏度 | -120 | -125 | dB |
| 分辨率 | ± 1.0 | ± 1.0 | dB |
| 回损精度 | ± 1.0 | dB | |
| 插损: | |||
| 动态范围 | 10 | 15 | dB |
| 分辨率 | ± 0.5 | ± 0.5 | dB |
| 插损精度 | ± 0.5 | dB | |
| 扫描速度: | |||
| 11.9 | Hz | ||
| 最大光功率: | |||
| 8 | mW | ||
| 其他: | |||
| 光纤接头 | FC/APC | ||
| 重量 | 7.85 | kg | |
| 规格(W*D*H) | 360 x 320 x 170 | mm | |
| 最大功耗 | 50 | W | |
便携式背光反射计OBR 4200
OBR4200是业界唯一的便携式超高分辨率背光反射计，可用来测试短程网络。小体积的加固型平台，易于携带，能够以毫米级分辨率“查看”长达500米的光纤中的任何情况，并且没有死区。利用业界领先的灵敏度和分辨率， OBR4200为制造商提供终极的现场光纤网络检查、诊断能力。
- ＜3毫米空间分辨率
- 500米测试长度内无死区
- -120dB的灵敏度
- 0.1dB的插损分辨率
- OBR4200为光纤模块及短程网络的制造商和安装者提供了前所未有的现场诊能力。
- 光纤或无源器件的故障定位及检验
- 光纤网络故障的现场诊断及排查
- 光纤组件、连接器和短程网络的品质检验
- 方便地定位及诊断光纤的弯曲、熔接、连接头及断裂等各类故障
- 定位各点的插损，可节省大量故障排查时间
- 光纤组件的多点位回损检验或光纤带缆的同步检验
- 可用户自定义的用于光纤组件合格检验的图形界面软件开发工具（GUI SDK）
- 光纤组件的自动检验
- 器件或模块内温度及应力的监测
| 参数 | 规格指标 | 单位 | |
| 最大测量长度: | |||
| 0~500 | meters | ||
| 空间分辨率: | |||
| 低分辨率 | 高分辨率 | ||
| 事件分辨率1 | ＜50 | ＜3 | Mm |
| 采样分辨率2 | 5 | 0.3 | mm |
| 中心波长3: | |||
| 1542±2 | nm | ||
| 回损: | |||
| 动态范围4 | 50 | dB | |
| 总范围 | -10~-120 | dB | |
| 灵敏度 | -120 | dB | |
| 分辨率5 | ± 0.2 | dB | |
| 回损精度5 | ± 0.4 | dB | |
| 插损: | |||
| 动态范围6 | 16 | dB | |
| 分辨率5 | ± 0.1 | dB | |
| 插损精度5 | ± 0.2 | dB | |
| 扫描速度: | |||
| 每次扫描前有2.6秒间隔时间 | 低分辨率 | 高分辨率 | |
| 0.01 | 0.12 | s/m | |
| 光学输出: | |||
| 接口类型 | FC/APC | ||
| 输出功率 | 10 | W | |
| 输出条件 | 标准单模光纤，可通过模式调节器来获得多模输出 | ||
| 环境: | |||
| 工作温度 | 0~40 | ℃ | |
| 储存温度 | -20~60 | ℃ | |
| 规格(W*D*H) | 360 x 320 x 170 | mm | |
| 最大功耗 | 50 | W | |
| 电源7 | |||
| 电池续航时间 | 5 | hr | |
| 电池充电时间 | 5 | hr | |
| 规格重量 | |||
| 规格 | 8.5(L) x 10.7(W) x 3.85(H) | in | |
| 重量 | 9.8 | lbs | |
所有参数适用于单模光纤。多模光纤的测量需要通过模式调节器来获得。
松下的加固型计算机Toughbook-19的规格可以通过以下链接获得：http://www.panasonic.com/business/toughbook/toughbook-products.asp#/19
1. 50米长的SMF-28e光纤中14.5dB的FWHM峰宽，峰宽随着距离和模态分散的增加而增加。
2. 轴向上两个采样点之间的距离。
3. 扫描了以此为中心的3纳米宽的波长范围。
4. 比最强反射大-30dB和背景噪声之间的范围。
5. 2米整合宽度下的测量。
6. 在散射达到背景噪声前的可允许的双程损耗和插损的测量将不再可能。
7. 便携计算机的电池续航能力及充电时间，请参看便携计算机的数据手册。
