Menu

Menu

Phasics Kaleo MultiWAVE多波长干涉仪

Phasics KaleoMultiWAVE多波长干涉仪

Phasics Kaleo MultiWAVE动态干涉仪能够兼顾测量透射波前误差和反射波前误差(TWE / RWE)。 直径最高至5.1英寸(130毫米)的镀膜和未镀膜的光学器件可在其工作波长下直接进行测量。 Kaleo MultiWAVE是购买多台干涉仪或特殊波长干涉仪的有效替代方案,拥有极高性价比。 该系统同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度,及动态干涉仪的优秀抗震性能。

Kaleo MultiWAVE多色干涉仪| 独特的干涉仪| 几个波长的波前误差

Kaleo MultiWAVE工作台是一种独特的仪器,可在多个波长下提供波前误差。诸如透镜,滤光器或镜子之类的光学元件可以在其工作波长下表征,KaleoMultiWAVE可在不同波长下工作,以在涂层的工作波长下对光学元件和涂层进行鉴定。

该工作台具有与干涉测量相似的卓越精度,并且在大直径上具有非常好的动态特性。

测量在双通道中进行,无论是透射还是反射

 

 

光学设置双通
标准波长625 / 780 / 1050 nm
定制波长400 to 1100 nm
光学孔径5.1" (130 mm)
重复性(ISO 5725)<5 nm RMS
再现性(ISO 5725)<7 nm RMS
动态范围(散焦)RWE10μm PtV
动态范围(散焦)TWE200nm RMS
精度(RWE)<80 nm RMS
精度(TWE)<20 nm RMS
尺寸910 x 600 x 260 mm

技术优势:

  • 多波长干涉仪–同一个工作台上有多个波长
  • 标准:625nm-780nm-1050nm
  • 可定制波长:UV-400-1100nm-SWIR
  • 高动态范围–超过20μm的PtV
  • 大口径的10μm PtV动态范围
  • 高度畸变的波前测量
  • 超高精度—干涉仪水平
  • 精度类似于干涉仪
  • 非常高的重复性
  • 噪音极低

应用:

  • 表面测量
  • 镀膜(AR,介电,金属)
  • 干涉滤波器

市场:

  • 光学制造商
  • 滤波片制造商
  • 太空与防御
  • 汽车

规格:

  • 符合ISO 5725标准
  • MetroPro格式兼容
  • 提供ISO 10110格式

Phasics Kaleo MultiWAVE多波长干涉仪

与Fizeau干涉仪对比:

光学设置FizeauPhasics
Diameter (mm) 124.9125.4
RWE (nm PtV)1498.131535.38
RWE (nm RMS) without PST/TLT/PWR35.228.1
RWE (nm RMS) without ST/TLT/PWR/AST/CMA/SA9.112.9
SAG (fr)-- ISO 101105.135.04
IRR (fr)0.750.61
RSI (fr)0.340.23
RMSt (fr)1.4771.459
RMSi (fr)0.1290.103
RMSa (fr)0.0850.059

Phasics Kaleo MultiWAVE多波长干涉仪